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1.对象和方法：14例确诊为X综合征的患者，20例随机选择冠状动脉造影阳性的患者，于造影前一天清晨，空腹抽取肘静脉血用于检测血浆内皮素(ET)、氧化修饰低密度脂蛋白(oxLDL)水平。18例健康志愿者作对照。ET用放射免疫法测定，oxLDL用ELISA法测定。统计分析采用student-t检验。
2.结果：X综合征患者、冠心病患者和健康人血浆ET(pg/ml)水平分别为88.8±32.9、80.3±27.7、63.0±24.6；血浆oxLDL(ug/dl)水平分别为44.5±36.1、70.6±37.9、44.4±19.9。
3.讨论：国外文献报道，X综合征患者可能存在微血管内皮功能异常。本研究结果提示：X综合征患者血浆ET水平较健康人显著升高(P＜0.05)，而与冠心病患者比较差异无显著性，说明二者均存在血管内皮功能异常。冠心病患者血浆ET水平升高，原因可能系内皮细胞受损，缺血缺氧，高脂血症等。X综合征患者血浆ET水平高，我们推测可能与心肌缺血及交感神经异常活动有关。本研究结果：X综合征患者oxLDL测值在正常范围，冠心病患者则明显升高，表明二者血浆ET水平升高具有不同的病理基础。根据Romeo等长期随访结果，X综合征患者可能有心肌缺血、边缘性高血压和早期心肌病变，小血管病变可能是疾病进展的原因。本研究结果表明，X综合征患者存在血浆ET水平绝对升高，提示通过应用改善和调节血管内皮功能的药物以逆转增高的ET，将有助于患者症状的改善。
(收稿：1996-03-16修回：1997-05-31)
